定量性改善法

○散乱補正法

DEW
 サブウィンドウ設定して、メインウィンドウに対して散乱線を補正する

TEW
 高エネルギー側と低エネルギー側の二つのサブウィンドウ設定して、散乱線を補正する

コンボリューション-サブトラクション(CS)
 散乱関数の畳込みから推定し散乱補正を行う
TDCS
 各画素における散乱の割合を回転角度ごとに求め、散乱補正を行う
(CS法の一種)

シミュレーション

コンプトンウィンドウ減算法(CW)

 

○吸収(減弱)補正法

・均一な吸収体に対する補正法 
 (1)
ソレンソン法 

  各投影データに対して補正する前処置法。
   均一な減弱係数分布を仮定した減弱補正法。 
 (2)
Chang
   再構成後の断層像に対して行う後処置法。
   簡便だが、過補正や補正不足などが起こりうる。

・田中(WBPRPC)

・不均一な吸収体に対する補正法

 減弱係数分布は透過型CT(TCT)スキャンより得ら、次のようなものがある。

(1)外部線源
  校正用外部線源
(68Ge68Ga(β+)241Am)
  などを用いて測定時間1520

(2)137Cs(661kev):測定時間10

(3) TCT法:XCTを用いて測定時間1(データを数種類のセグメントに分けるSAC法が一般的)

 

○空間分解能補正法
FDR法:コリメータの開口角の影響による深さ方向の分解能を補正する方法。

CBC法:コリメータ開口補正

 

 画像工学

○ナイキスト周波数()
 「サンプリング周波数1/2
 「画像に含まれている最高周波数

 N=12  
 d画素間の距離(サンプリング間隔)

ナイキスト周波数の関係が崩れた場合は、複製された高周波成分が低周波成分の領域に折り返され、これをエリアシング誤差という。
 マトリックスサイズを小さくして解決する。

 

○角度サンプリング数(N)

 N=π×(S2d)  
 S:有効視野() 
 d:ピクセルサイズ()

 

○二次元特性

・零周波数は入力画像のCount値の総和

・縦軸はダイナミックレンジに合わせて強度分布に対数表示する

・横軸は周波数軸でナイキスト周波数は0.5である

・原点対象である

・方向依存性である、スペクトル分布は90°方向。

 

○空間周波数と画像データの関係

・低空間周波数領域:情報成分(ボケの成分)

・ターゲットデータ:真の情報成分

・高周波成分領域:統計雑音成分(エッジの成分)

 

 

○デジタルフィルター
画像フィルタによって画素値を変化させる」

・前処理フィルター

(1)画像復元用
  Wiener
  Metz:         

(2)画像加工用
  Low pass
  Butterworth:高周波成分をカットし、画像の統計雑音を取り除く(低域通過)

  カットオフ周波数ければ、よりい周波数をカットする

  スムージングフィルタ:高周波雑音の除去

 

・再構成フィルター

フィルタ補正逆投影法
Ramachandran 」「SheppLogan」「Chesler
 高周波強調を行って再構成時のボケを補正する(ramp)フィルタである。

 

○ピクセルサイズ(マトリクスサイズ)

 ピクセルサイズはシステム分解能の半値幅(FWHM)1/31/4が最適とされる。

ピクセルサイズ:小 → SN比:「低下

             空間分解能:「

 

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