標準計測法12による絶対線量測定

水ファントムを用いて基準となる位置(基準深)の吸収線量を測り、各種補正を行って吸収線量を求める。ただし, 実際の測定は校正深での線量を深部線量比の値を用いて基準深線量に変換する。

 

 

X線測定

電子線測定

線量計

ファーマー

 

深部電離百分率測定には平行平板型のみ

校正深測定では平行平板
(R504.0cm2のとき)
ファーマー
(R504.0cm2のとき)

照射野

10×10cm2

10×10cm2(コーンを取り付ける)

セットアップ法

STD(TMR一定)

SSD(PDD一定)

校正深dc

Dc10cm

Dc0.6×R500.1

R50 = 1.029I50-0.06 (I5010cm)

R50 = 1.059I50-0.37 (I50 >10cm)

平均入射エネルギーE0=2.33 R50

校正深から

基準深へ変換

TMR(10cm, 10×10cm2)

SCD100cm

PDD(dc, 10×10cm2)

SSD100cm

 

R50深部線量半価深、吸収線量が50%になる深さ

I50深部電離量半価深、ビーム軸上での水中の深部電離量曲線がその最大値の50%になる深さ

 

○測定値Mrawに対する各種補正
 補正後の読み値MMraw×kpol×ks×kTP×kelec

(1)極性効果補正 kpol
 kyokuseihosei
平行平板型では必要だが、ファーマー型には必要ない

(2)温度気圧補正 kTP
 ondokiatu
 

(3)イオン再結合損失補正ks         

(4)電位計補正kelec

 


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○測定値から吸収線量Dcへの変換
 
Dc(10×10cm2) = M×ND,w×kQ

・水吸収線量変換係数ND,w
 ND,w kD,x (校正定数比) × Nc (コバルト校正定数)

 

・線質変換係数kQ
 基準線質(コバルト60)に対する測定対象線質の水吸収線量校正定数の比
 電離箱の形状と材質にも依存する。線質指標は以下のようになる。

電子線は深部線量半価深R50
 陽子線は残余飛
 炭素線はなし
 光子線は
TPR20,10
 60Coγ線は1

 

○校正点線量Dcから基準点線量Drへの変換

 Dr = Dc÷TMR = Dc÷PDD



 モニタ線量計の校正

○モニタユニット値 (Monitor Unit, MU)

 モニタ線量計で計測されるフルエンス量,ある規定量で1MU とした値

 どのくらい照射したかをモニター線量計で測定/認識して制御するため、どれだけ照射したかを表す数値。

規定量: 基準深で通常 1.0 cGyとなる量

 

DMU (Dose monitor unit; Gy/MU)

 1 MU照射したときに基準照射野,基準深における吸収線量

 通常, 1.0 cGy/MUに調整されている。
 DMUの調整では, 吸収線量は変えることができないので, モニター線量計で測定された電荷量からMU値に変換する際の変換割合(ゲイン)を調整する。

 また, 1MUだけ照射するというのは誤差が多いので, 100MU以上出してそのときの線量をMU値で割る。

 

MU()計算

mu

D投与線量             

SAD一定法ではTMR or TAR or TPR   
SSD一定法ではPDD        

OPF出力係数     
WFウェッジファクタ     
TFトレイファクタ

 

MU値に影響する因子

患者セットアップ
投与線量
(1あたりの投与線量cGy)
深さ (深部線量比の値)

照射野の大きさ (出力係数)
ウェッジ
フィルタ (ウェッジファクタ)
DMU

 

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○出力係数(Out put factor)

10x10cm2の照射野サイズの際の線量を1.0として,
 照射野サイズが異なったときの線量の比率で表される。
 照射野の大きさが異なると
, 散乱線を生む体積が増減する.
 照射野が大きければ, 線量が増加。小さければ, 減少する。
 MU値計算において照射野サイズの影響を加味する項として出力係数がある。

 全散乱係数 Scp = Sc × Sp  →  OPF
 OPF =  D(d0,A) ÷ D(D0,10×10)

・コリメーター散乱係数 Sc
 ガントリヘッド内(平坦化フィルタ、コリメータ)で生まれる散乱線

・ファントム散乱係数 Sp
 水ファントム内(体内)で生まれる散乱線
 照射野の小さなところでは, Scpに対するScの影響が大きい

 

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