ノイズ特性(粒状性)
粒状性
（65.89、60.89）
低コントラスト分解能（低周波領域）に影響を及ぼす
粒状性悪：低コントラスト分解能悪
・DR系のノイズ
（72am46、61.89）
「X線量子モトル（量子ノイズ）」
：最も大きな影響で入射X線量に依存する
「光量子ノイズ（CR）」
：入射X線量に依存する
「システムノイズ」
：構造モトルや電気系ノイズ
→ 固定ノイズ
「量子化ノイズ」
・DR系のノイズへの影響因子
「サンプリングアパーチャのMTF」
「サンプリング間隔」
「画像処理のMTF」
「画像表示のMTF」
ウィナースペクトル（WS）：NPS
（74am95、73am94、72am94、71am95、64.91、63.90、62.89、61.91）
面積の次元を持ち、ノイズ量を空間周波数ごとに示す
自己相関関数（濃度変動）をフーリエ変換する方法と、波形を直接フーリエ変換する方法がある
$$ウィナースペクトルWS(u,v)＝\frac { ⊿x×⊿y }{ N×M } ×{ |F(u,v)| }^{ 2 }$$
F(u,v)：濃度変動のフーリエ変換
⊿x⊿y：x,y方向のサンプリング間隔
N,M：横、縦のマトリクスサイズ
・WSが大きいとノイズ特性は悪い
・標本化間隔によって起こるエリアシングの影響を受ける
（ただし、検出器WSにはあまり影響はない）
・測定に必要なもの（61.90）
：トレンド除去処理、ピクセル寸法測定、デジタル特性曲線測定
RMS粒状度
（72pm95、61.88、60.89）
フィルム濃度のばらつきを標準偏差で表す
（RMS粒状度が大 → 粒状性が悪い）
・空間周波数ごとの情報がない
→ 濃度変動は表現可能
＊変動の細かさ、濃度変動の標準偏差、周波数ごとのノイズは表現不可能
・マイクロデンシトメータのアパーチャサイズに依存する
アパーチャが広いとRMS粒状度が低下する
・アパーチャサイズ
アナログ信号を読み取る際の窓の大きさ
標本化間隔がアパーチャサイズよりも大きいと雑音特性は悪くなる
C-Dダイアグラム
（67am93、65.88、64.89、60.91）
低コントラスト分解能の視覚的評価法
バーガーファントムを使用して測定する
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