ノイズ特性(粒状性)

ノイズ特性(粒状性)

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粒状性

(65.89、60.89)
 低コントラスト分解能周波領域)に影響を及ぼす
 粒状性悪:低コントラスト分解能

・DR系のノイズ

(61.89)
X線量子モトル(量子ノイズ)」:最も大きな影響で入射X線量に依存する
「光量子ノイズ(CR)」:入射X線量に依存する
「システムノイズ」:構造モトルや電気系ノイズ
           → 固定ノイズ
「量子化ノイズ」

・DR系のノイズへの影響因子
「サンプリングアパーチャのMTF」
「サンプリング間隔」
「画像処理のMTF」
「画像表示のMTF」

 

ウィナースペクトル(WS):NPS(Normalized NPS)

(71am95、64.91、63.90、62.89、61.91)
 面積の次元を持ち、ノイズ量を空間周波数ごとに示す
 自己相関関数(濃度変動)をフーリエ変換する方法と、波形を直接フーリエ変換する方法がある
 $$ウィナースペクトルWS(u,v)=\frac { ⊿x×⊿y }{ N×M } ×{ |F(u,v)| }^{ 2 }$$
 F(u,v):濃度変動のフーリエ変換  
 ⊿x⊿y:x,y方向のサンプリング間隔
 N,M:横、縦のマトリクスサイズ

・WS
:大でノイズ特性は悪い

標本化間隔によって起こるエリアシングの影響を受ける
(ただし、検出器WSにはあまり影響はない)

・測定に必要なもの(61.90)
トレンド除去処理ピクセル寸法測定デジタル特性曲線測定

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RMS粒状度

 (61.88、60.89)
 フィルム濃度のばらつきを標準偏差で表す
(RMS粒状度が大 → 粒状性が悪い

空間周波数ごとの情報がない
 → 濃度変動は表現可能
変動の細かさ、濃度変動の標準偏差、周波数ごとのノイズは表現不可能

・マイクロデンシトメータのアパーチャサイズに依存する
 アパーチャが広いとRMS粒状度が低下する

・アパーチャサイズ
 アナログ信号を読み取る際のの大きさ
 標本化間隔アパーチャサイズよりも大きいと雑音特性はくなる

C-Dダイアグラム

 (67am93、65.88、64.89、60.91)
 低コントラスト分解能の視覚的評価法
 バーガーファントムを使用して測定する


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