自動露出機構(AEC)

自動露出機構(AEC)

　被写体透過後のある領域のX線を検出、その量に応じて照射条件(管電圧･管電流･照射時間)を自動制御

制御対象

　撮影：「照射時間」
　透視：「管電流」「管電圧」
　X線CT：「管電流」

X線量の検出方式

1)フォトタイマ方式
：蛍光体からの発光を電気信号に変え、光電流を検出する
　X線制御は撮影時間で行う
　バックアップタイマの設定が必要

2)イオンタイマ方式
：電離箱からの電離電流を検出する

3)半導体タイマ方式
：半導体検出器からの電離電流を検出する

4)I.I.方式
：I.I.
　→　X線TVカメラからの映像信号の大きさで制御する

※CT装置
：位置決め用スキャンデータから照射条件を決定する

※バックアップタイマ
：自動露出機構の動作不良時に対応するための最大撮影時間
　指定のX線負荷(負荷時間)に達した時、照射を終了させる

X線検出部の位置

　(72pm14、69am7、68pm7、61.12)

　検出方法により管電圧に対する写真濃度への影響が異なる
1)前面検出方式
→　被写体　→　[X線検出部]　→　カセッテ
　フィルム透過前のX線を検出するため、X線検出部自身の自己吸収や厚みによる影響がある
　管電圧が低いほど写真濃度は低下

2)後面検出方式(乳房撮影)
→　被写体　→　カセッテ　→　[X線検出部]
　カセッテの自己吸収の影響が大きい
　管電圧が低いほど写真濃度は上昇

重要な特性

　(69am7、68pm7、63.10、62.11)

1) 被写体厚特性
　被写体厚が厚いほど撮影時間は長い･画像が暗い
　短時間撮影領域では悪い

2)管電圧特性
　X線検出方法に影響される
　管電圧が低いほどフィルム濃度に影響を与える
　X線検出部用の蛍光体の線質依存性は写真濃度に影響する

3)散乱線特性
　散乱線の含有量による影響
　一般に写真濃度が低下する

4)応答時間(照射開始からX線管への電力供給が停止するまでの時間)特性
　最短応答時間(X線斜断信号を出せる最短時間)と
　応答遅れ時間(実際にX線が斜断されるまでの動作遅れ時間)で決まる
　応答時間は一定のため、撮影時間が短いほど写真濃度は上昇する
　主回路開閉器の応答に左右される
　被写体厚の薄い所で影響が大きい
　(ただし、現在はサイリスタを使用しているため、ほとんど影響は無い)　

5)被覆特性
　採光野に占める高吸収体（造影剤や厚い被写体）の占有面積が大きくなると、検出器に入射する線量率が極端に小さくなり、適正な線量が得られない

採光野

　X線検出部の採光野は撮影部位に左右される
　検出器の採光野の位置や面積や大きさはフィルム濃度に影響する

センサ

　被写体透過後のX線を検出する
　センサの大きさは、フィルム濃度に依存する

公称最短撮影時間　

（60.11）
　AECにおいて濃度を均一にする最短時間